X線非破壊検査システム
マイクロフォーカス TXView
特長
FEATURES
マイクロフォーカスX線発生器・FPD(フラットパネルディテクタ)搭載
X線発生器は90kV/130kVの2種類から選択できます。
130万画素のFPDを搭載したことで、歪の無い鮮明な画像が撮影可能になりました。
多彩な解析・分析への対応
独自のHDR(ハイダイナミックレンジ)機能で、従来より鮮明な画質改善を実現しました。
直交CTを搭載することで、3次元での解析も可能になります。
オペレータのニーズに対応
外観カメラを搭載したことで、視覚的に操作可能になり、操作性が向上しました。
ガイド操作モードおよびソフトウェアの改善により、簡単に綺麗な画像が撮影出来ます。
人間工学に基づいたデザイン
「座り作業」、「立ち作業」のどちらでも使い勝手の良いデザインを採用しています。
試料扉の開口部と角度を改良することで、作業性が向上しました。
画像例
IMAGE EXAMPLES
仕様
SPECIFICATION
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基本仕様 | ||
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型式 | TXV-S4130FD | TXV-S4090FD |
X線出力 | 130kV | 90kV |
X線最小焦点寸法 | 5μm | |
X線検出器 | FPD(フラットパネルディテクタ)130万画素 | |
空間分解能 | 5μm(JIMA RT RC-05) | |
モニター上倍率 | 160倍(24インチモニター) | 210倍(24インチモニター) |
試料テーブル最大外形 | W410×D360×H80 mm | |
試料最大質量 | 2kg |
TXV-S4090FD
X線出力 | 90kV/200μA |
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X線最小焦点寸法X線最小焦点寸法 | 5μm |
X線検出器 | FPD(フラットパネルディテクタ)130万画素 |
空間分解能 | 5μm(JIMA RT RC-05) |
X線幾何倍率 | 69倍 |
モニター上倍率 | 210倍(24インチモニター) |
試料テーブル最大外形 | W410×D360×H80 mm |
試料最大質量 | 2kg |
本体外形寸法 | W1150×D1105×H1725 mm |
本体質量 | 約950kg |
漏洩線量 | 1μSv/h以下 |
電源/接地 | 単相 AC100V, 1.5kVA/D種 |
TXV-S4130FD
X線出力 | 130kV/300μA |
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X線最小焦点寸法X線最小焦点寸法 | 5μm |
X線検出器 | FPD(フラットパネルディテクタ)130万画素 |
空間分解能 | 5μm(JIMA RT RC-05) |
X線幾何倍率 | 54倍 |
モニター上倍率 | 160倍(24インチモニター) |
試料テーブル最大外形 | W410×D360×H80 mm |
試料最大質量 | 2kg |
本体外形寸法 | W1150×D1105×H1725 mm |
本体質量 | 約1100kg |
漏洩線量 | 1μSv/h以下 |
電源/接地 | 単相 AC100V, 1.5kVA/D種 |
画像解析・計測機能 | |
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計測機能 | 濡れ性、ワイヤ流れ、2点間寸法、ボイド計測、BGAボイド率測定 |
解析機能 | 疑似カラー、プロフィール、ヒストグラム、3次元表示 |
オプション | |
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直交CT(コーンビーム) | 直交ユニット(交換方式) |
2軸回転装置 | 回転・傾斜機構(交換方式) |
事例
CASE EXAMPLE
直交CT(コンデンサ)
直交CT(コーンビーム)によるコンデンサの撮影例。(オプション)
コンデンサの断面画像から製品内部を3次元解析、異物混入、欠陥の観察・解析ができます。
コンデンサ(横断面)
コンデンサ(縦断面)